簡要描述：XRD平板探測(ce)器(qi),X射線數字成像檢測(ce)系統是基(ji)于8英(ying)寸(cun)非晶(jing)硅傳感(gan)器(qi)的二(er)維光電(dian)(dian)(dian)二(er)極管陣列(lie)，具有200微米像素尺寸(cun)，接收(shou)區(qu)域200mm*200mm，X射線通過閃爍(shuo)屏轉換為(wei)光電(dian)(dian)(dian)子并被光電(dian)(dian)(dian)二(er)極管轉化為(wei)數字信號，16位數字化信息可實現高動態(tai)范(fan)圍及對比(bi)度(du)，使檢測(ce)圖像邊界輪廓清晰。
產品型(xing)號：XRD廠商性質：生產廠家更新時間：2023-12-04訪 問 量：3887相關文章
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XRD 0822 AP X射線數字平板探測器是基于8英寸非晶硅傳感器的二維光電二極管陣列，具有200微米像素尺寸，成像區域200mm*200mm，X射線通過閃爍屏轉換為光電子并被光電二極管轉化為數字信號，16位數字化信息可實現高動態范圍及對比度，使檢測圖像邊界輪廓清晰、質量媲美膠片。
XRD 0822 AP X射線數字平板探測器具有檢測速度快(非像素合并時幀速可達25fps)、可接收320kV的X射線直接照射等特點，被廣泛應用于工業領域X射線檢測。
技術參數(shu)
● 面板 轉換屏 DRZ-PLUS
像素數目 1024×1024
像素間距 200µm
動態范圍 ; ≥88db
灰度等級 65536(16bit)
幀速度 25fps @200µm
50fps @400µm
能量范圍 20～450Kev
● 電子設備 電荷放大器 8×128通道ASIC
增益調節 0.25/0.5/1/2/4/8pF共6級可設置
ADC轉換 16bit
非線性 ≤1%
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