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工業計算機(ji)斷層(ceng)掃描(miao)系(xi)統能(neng)在對檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)無損傷條件下，以(yi)(yi)二(er)維斷層(ceng)圖像或三維立體(ti)圖像的(de)(de)形(xing)式，清晰、準確、直觀地展示被檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)的(de)(de)內部(bu)結構、組(zu)成、材(cai)質(zhi)及缺損狀況(kuang)。 工業計算機(ji)斷層(ceng)掃描(miao)系(xi)統原(yuan)理是(shi)依據輻射在被檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)中的(de)(de)減弱和吸(xi)(xi)收特(te)性。同(tong)物(wu)質(zhi)對輻射的(de)(de)吸(xi)(xi)收本領與物(wu)質(zhi)性質(zhi)有(you)(you)關(guan)。所以(yi)(yi)，利用(yong)放(fang)射性核素或其(qi)他輻射源發(fa)射出的(de)(de)、具有(you)(you)一定能(neng)量(liang)和強度的(de)(de)X射線(xian)(xian)或γ射線(xian)(xian)，在被檢(jian)測(ce)物(wu)體(ti)中的(de)(de)衰減規律及分布情況(kuang)，就有(you)(you)可能(neng)由探測(ce)器(qi)陳列獲(huo)得(de)物(wu)體(ti)內部(bu)的(de)(de)詳細信息(xi)，后用(yong)計算機(ji)信息(xi)處理和圖像重建技(ji)術(shu)，以(yi)(yi)圖像形(xing)式顯(xian)示出來。 工業計算機(ji)斷層(ceng)掃描(miao)系(xi)
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